科睿公司:接触角表面张力仪,霍尔效应仪,原子层沉积(ALD),开尔文探针,气溶胶,zeta电位

薄膜(半导体)材料制备和表征

→	电子束蒸发系统 (E-Beam)
→	磁控溅射系统 (Sputter)
→	脉冲激光沉积系统(PLD)
→	等离子增强化学气相沉积系统
→	低压化学气相沉积(LPCVD)
→	(深)反应离子蚀刻系统(RIE)
→	脉冲等离子体沉积(PPD)
→	纳米团簇沉积系统
→	超高真空表面分析系统
→	CIGS薄膜太阳能电池沉积系统
→	原子层沉积系统 (ALD)
→	快速退火炉 (RTP)
→	光刻机/紫外曝光机
→	匀胶机
→	霍尔效应测量仪
→	变温霍尔效应测量仪
→	光致发光扫描系统 (PL)
→	电化学CV(ECV,C-V Profiler)
→	非接触迁移率/电阻率测量仪
→	探针台
→	低温探针台 (Cryogenic Probe Station)
→	定制变温真空探针台(90K-570K)
→	光谱型椭偏仪
→	膜厚仪
→	深能级瞬态谱仪(DLTS)

表面材料分析

胶体及其他分散体系制备和表征

其他仪器和设备

→	低温恒温器/样品制冷系统/冷头 Cryostat/Cryocooler
→	太阳电池IV测试仪,太阳模拟器
→	傅立叶变换核磁共振波谱仪(FT-NMR)
→	高温超导磁体
→	宽频阻抗谱仪
→	锁相放大器
→	光反应器
→	便携式流变仪(型号:RC1)
→	红外热像仪