薄膜(半导体)材料制备和表征
 
电子束蒸发系统 (E-Beam)
磁控溅射系统 (Sputter)
脉冲激光沉积系统(PLD)
等离子增强化学气相沉积系统
低压化学气相沉积(LPCVD)
(深)反应离子蚀刻系统(RIE)
脉冲等离子体沉积(PPD)
纳米团簇沉积系统
超高真空表面分析系统
CIGS薄膜太阳能电池沉积系统
原子层沉积系统 (ALD)
快速退火炉 (RTP)
光刻机/紫外曝光机
匀胶机
霍尔效应测量仪
变温霍尔效应测量仪
光致发光扫描系统 (PL)
电化学CV(ECV,C-V Profiler)
非接触迁移率/电阻率测量仪
探针台
低温探针台 (Cryogenic Probe Station)
定制变温真空探针台(90K-570K)
光谱型椭偏仪
膜厚仪
深能级瞬态谱仪(DLTS)
表面材料分析
 
阴极荧光分析系统 CL
扫描开尔文探针系统
表面等离子体共振仪(SPR)
显微操纵器 micromanipulator
等离子清洗机
接触角测量仪
飞行时间二次离子质谱
电镜用高纯单晶阴极灯丝
胶体及其他分散体系制备和表征
 
PALAS气溶胶发生器、稀释器
PALAS气溶胶粒径谱仪
气溶胶粒径及形状测定仪
生物气溶胶实时监测仪
尘埃粒子计数器
烟雾发生器、空气示踪器
高效过滤器评价系统
其他仪器和设备
 
低温恒温器/样品制冷系统/冷头 Cryostat/Cryocooler
太阳电池IV测试仪,太阳模拟器
傅立叶变换核磁共振波谱仪(FT-NMR)
高温超导磁体
宽频阻抗谱仪
锁相放大器
光反应器
便携式流变仪(型号:RC1)
红外热像仪
 
 
 
 
 
便携式流变仪
型号:RC1
原产国:德国
 
技术参数
扭距范围(交流电)      50 mNm
扭距范围 (电池)       20 mNm
扭距分辨率            0,01 mNm
角度范围              0,8 mrad
速度范围              0,7 to 800 min-1
粘度率(交流电)        10-3 to 3 x 103 Pa s
粘度率 (电池)         10-3 to 1,2 x 103 Pa s
切变率范围            0,9 to 4 x 103 S-1
切变应力范围(交流电)  0,7 to 3,4 x 104 Pa
切变应力范围 (电池)   0,7 to 1,3 x 104 Pa
准确性                +/- 1% 最大测试值
温度范围              -20°C to 180°C
温度测量方式          Pt 100 1/3 DIN
使用电源              100 ~ 240V, 20 W
 
附件
1.圆柱状测量系统用恒温调节器
2.温度测量器
3.标准圆柱状测量器及双缺口测量器 (DIN), 单向测量系统
4.可选择的测量装置用于锥/板及板/板测试系统
5.帕尔帖温度调节器用于用于锥/板及板/板测试系统
6.可垂直升降调节的仪器支架
7.电池充电器及仪器箱
8.可充电式电池
 
附加设备
1.计算机及打印机
2.恒温水浴油浴漕
3.校正用标准液
 
主要特点
1.内置式可充电电池及交流电源皆可使用
2.可选择的四种参数 --- 粘度、温度、扭距及切变率字幕平行显示
3.防尘操控面板. 扭力过载保护装置
4.切断电源后,预先设定的测量条件仍然可储存在仪器内
5.使用交流或电池时,RAM内存具有数据缓冲功能
6.有打印机及计算机数据接口
7.使用者容易使用的软件RHEO, 用于流变测量的数据处理及显示
 
仪器介绍
高精度实验研究用流变仪/粘度计,是保证产品质量及提升先进研发技术的利器. 采用高科技圆筒同心轴旋转技术测量动态旋转轴测试控制切变率(CSR - Controlled Shear Rate), 旋转轴测试控制切变应力(CSS - Controlled Shear Stress)以及与连接计算机使用的潜变试验(Creep test in connection with a computer system).
 
可选择的测试模式:
1.旋转轴测试控制切变率 (手动操作或经由个人计算机)
2.预先设定切变率水平(依据ISO3219标准定义的速度及切变率)
3.预先设定旋转轴测试控制切变应力(配合计算机使用)
4.潜变试验 (配合计算机使用)
 
计测及量的评鉴:
粘度 (Viscosity)                扭距 (Torque)
切变率 (Shear Rate)         温度 (Temperature)
切变应力 (Shear Stress)    时间 (Time)
速度 (Speed)

如您需要报价或更多资料请

     
 
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