薄膜(半导体)材料制备和表征
 
电子束蒸发系统 (E-Beam)
磁控溅射系统 (Sputter)
脉冲激光沉积系统(PLD)
等离子增强化学气相沉积系统
低压化学气相沉积(LPCVD)
(深)反应离子蚀刻系统(RIE)
脉冲等离子体沉积(PPD)
纳米团簇沉积系统
超高真空表面分析系统
CIGS薄膜太阳能电池沉积系统
原子层沉积系统 (ALD)
快速退火炉 (RTP)
光刻机/紫外曝光机
匀胶机
霍尔效应测量仪
变温霍尔效应测量仪
光致发光扫描系统 (PL)
电化学CV(ECV,C-V Profiler)
非接触迁移率/电阻率测量仪
探针台
低温探针台 (Cryogenic Probe Station)
定制变温真空探针台(90K-570K)
光谱型椭偏仪
膜厚仪
深能级瞬态谱仪(DLTS)
表面材料分析
 
阴极荧光分析系统 CL
扫描开尔文探针系统
表面等离子体共振仪(SPR)
显微操纵器 micromanipulator
等离子清洗机
接触角测量仪
飞行时间二次离子质谱
电镜用高纯单晶阴极灯丝
胶体及其他分散体系制备和表征
 
PALAS气溶胶发生器、稀释器
PALAS气溶胶粒径谱仪
气溶胶粒径及形状测定仪
生物气溶胶实时监测仪
尘埃粒子计数器
烟雾发生器、空气示踪器
高效过滤器评价系统
其他仪器和设备
 
低温恒温器/样品制冷系统/冷头 Cryostat/Cryocooler
太阳电池IV测试仪,太阳模拟器
傅立叶变换核磁共振波谱仪(FT-NMR)
高温超导磁体
宽频阻抗谱仪
锁相放大器
光反应器
便携式流变仪(型号:RC1)
红外热像仪
 
 
 
 
 

气溶胶粒径及形状测定仪
原产国: 英国BIRAL

该系统使用ASAS(Aerosol Size and Shap)技术原理测量气溶胶的形状和组成。
ASAS技术使用光学颗粒技术原理。该仪器让气溶胶的气流通过激光束,由于颗粒的存在,会引起的光的衰减和散射,根据散射和衰减状况,我们可以测量颗粒的形状和大小。
该仪器不仅能够测定气溶胶颗粒(〈20 um)的粒径及浓度大小,还可测定测单颗粒气溶胶形状因子。因此,该仪器同常规的气溶胶粒径谱仪相比具有更高的精度及分辨率,能够区分气溶胶和粉末样品的细微差别。 hspace=0

应用领域:
气溶胶研究
全球气候变化研究,云层研究
环境监测污染物浓度
药物研究
粒子设计和组成
实时监测和控制粒子的生成过程
可测纤维/生物气溶胶的污染浓度
监测生物气溶胶水平

技术参数:
电源:90 V to 264 V ac, 47 – 63 Hz, 5 A max.
通讯连接:USB
颗粒通量:2,000 个/秒 (º 1,200 p/cc)
不对称因子形状参数:0 – 100
不对称通道数:20, 5 Af units分辨率
流速:1.0升/分钟  (± 10%)
粒径范围:0.5 – 20 um
粒径分辨率:0.5 um
颗粒计数:〈2,000个/秒
大小:L47cm x W27cm x H26cm
重量:20kg
软件功能强大:实时图形和后处理分析

主要特点:
此系统不仅能够测定气溶胶颗粒(<20µm)的粒径及浓度大小,还可测定测单颗粒气溶胶形状因子。因此,该仪器同常规的气溶胶粒径谱仪相比具有更高的精度及分辨率,能够区分气溶胶和粉末样品的细微差别。

后处理分析:
颗粒数浓度(个/立方厘米)
颗粒体积/立方厘米
颗粒表面积/立方厘米
颗粒数目 (总数的百分比)
颗粒体积 (总体积百分比)
颗粒表面积 (总表面积的百分比)

 

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